FPGA集成FIFO在高过载存储测试系统中的应用

摘要：

本文主要利用XILINX公司的FPGA芯片XC2S30内部的双口RAM来集成FIFO,并根据两种不同的三星公司FLASH存储器页编程缓冲寄存器容量,设计了两种不同的FIFO缓冲高过载存储测试解决方案,从而最大限度地利用了FPGA的内部资源,文中还给出了测试系统总体框图及应用情况.

关键词： 高过载 存储测试 数据缓存 可编程器件 闪存 FPGA集成

作者: 马游春 张涛 李锦明

作者单位: 仪器科学与动态测试教育部重点实验室,中北大学电子科学与技术系,太原,030051

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 贵阳、沈阳

会议语种:中文

页码: 2350-2351,2388

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）