基于数据处理与模型匹配技术的回摆曲线测定仪

摘要：

本文应用复合滤波技术和X射线Kα双峰分离技术开发了低成本X射线回摆曲线测定仪,用于测量单晶材料的物理特性.在此基础上,应用模型匹配技术自动识别晶体的缺陷,使该仪器具备了很高的智能性.实际应用表明,仪器检测准确,性能优良.

关键词： 回摆曲线 数据处理 复合滤波 双峰分离 模型匹配 晶体缺陷

作者: 关守平 冀海燕 李兆达

作者单位: 东北大学信息科学与工程学院,沈阳,110004

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第八届青年学术会议

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 203-205

在线出版日期: 2006-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）