电路中的ESD保护

摘要：

静电放电(ESD)常常是导致设备损坏的根源之一.本文详细阐述ESD的来源、造成的危害以及讨论如何测试集成电路的防静电冲击能力,并提供一些抗ESD冲击的应用技术。

关键词： ESD保护 HMB 通用串行总线 电磁兼容性 静电放电

作者: 吴昱旻 张金平 张定会

作者单位: 上海理工大学光学与电子信息工程学院,上海,200093

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 贵阳、沈阳

会议语种:中文

页码: 2560-2561

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）