大气中和基片表面的悬浮分子污染物(AMC)的研究
对大气中和粘附在基片表面的AMC发散源和特性进行评定的方法,对产生问题的机理,排除的策略和解决问题的对策的理论上的思考等进行了研究.由各种高技巧的步骤(采样、移动、预处理、浓缩、蒸发和注射)组成了对AMC进行超微分析的方法.这些步骤旨在引起分析物的污染和/或损失.用各种经过样品分析在同时获得的检验数据可以真实地证明所得数据的可靠性.
中和基片 悬浮分子污染物 大气污染
Taketoshi Fujimoto Tatsuo Nonaka Toshikazu Taira Naoki Takeda Hiroyuki Iida Reiko Iikawa Kikuo Takeda
Sumika Chemical Analysis Service Ltd.9-1, Kitasode, Sodegaura, Chiba, 299-0266, Japan
国内会议
北京
中文
94-99
2006-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）