痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路

摘要：

本文介绍一种半导体激光器温度控制电路及其辅助调试电路(含软件),电路采用Peltier模块集成温度控制器MAX1978,温控精度约为0.02℃,该电路用于痕量气体光谱法检测系统.

关键词： 半导体激光器 MAX1978 PID 痕量气体检测 温度控制电路 光谱法检测

作者: 谭中奇 龙兴武 李发明

作者单位: 国防科技大学,长沙,410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 贵阳、沈阳

会议语种:中文

页码: 1909-1910

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）