胶层厚度对层状结构多阶谐振频率的影响
胶层厚度是影响粘接强度的最重要参数之一,要评价多层结构中某粘接层的粘接质量,精确测量胶层的厚度具有重要的意义.薄层厚度的测量一直以来就得到大量的研究,产生了大量相应的理论模型和实验方法,如Kinra和Changyi Zhu”1”借助垂直入射的声波从覆有薄层的背衬结构两侧分别入射完成对厚度等参数的评价;Lavrentyev和Rokhlin”2”采用垂直入射与斜入射相结合的方法对钢衬板上的薄胶层特性评价作了进一步探讨.然而多层结构系统单侧垂直入射声波对其中分层声学参量的评价却一直没有能够很好的解决.本文从垂直入射声波的反射谱入手,分析了分层系统的谐振频率随板层厚度变化的关系,继而寻找到敏感变化区,为下一步借助反射谱获取多层结构系统的更多信息打下了基础.
胶层 层状结构 多阶谐振频率 粘接强度
周昌智 廉国选 毛捷 李明轩
中国科学院声学研究所
国内会议
厦门
中文
197-198
2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）