粘接界面的氢键模型与弹簧边界条件
近代的粘接理论认为粘接剂与被粘接材料之间的粘接力主要是由两材料分子之间的相互作用力形成.作用能约50 KJ/mol的氢键作用力是界面粘接力的主要贡献者”1”. 在环氧-铝粘接界面上,氢键是由铝表面的氧化铝层吸附的OH羧基为施主,与环氧树脂中的环氧环受主组成.氢键中施与受主的相互作用势,可用Morse对势描述: U=U0”e-2a(r-r0)-2e-a(r-r0)”, (1) 式中:U是氢键中的H与受主Y距离为r时的相互作用能,U0是经典的氢键离散能,a是形状因子,而r0是氢键的H原子与受主Y之间的平衡距离. 将氢原子与受主Y之间的作用力在r0附近作幂级数展开,并只保留至线性项:f=-dU/dr≈2aU0”-2a(r-r0)+a(r-r0)”=-2a2U0(r-r0)=-k(r-r0),(2)这表明一个氢键中的H和受主Y之间的作用力相当于长度为r0、弹性常数为k=2a2U0的弹簧作用力.本文还介绍了弹簧边界模型和激光超声实验.
粘接界面 氢键模型 弹簧边界条件 粘接理论
钱梦騄 王浩
同济大学,声学研究所,上海,200092
国内会议
厦门
中文
181-182
2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）