数字集成电路故障检测仪

摘要：

根据数字系统测试与可测性的原理,应用布尔差分算法推导出TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路芯片的最小测试集.以单片机为核心,由可编程I/O接口、E2PROM、RAM、键盘和LED显示器等组成数字集成电路故障检测系统,能完成对TTL74、54系列和CMOS4000、4500系列数字集成电路器件的功能测试.

关键词： 故障检测 测试集 集成电路 差分算法 单片机

作者: 赵悦 唐毅谦 蔡希彪

作者单位: 辽宁工学院信息科学与工程学院,锦州,121001

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第八届青年学术会议

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 399-400

在线出版日期: 2006-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）