基于虚拟仪器的集成电路自动测试系统设计

摘要：

设计了一种集成电路的电特性参数自动测试系统,可测试24种专用集成电路.本系统充分利用GPIB总线技术,实现了测试仪器的远程控制.软件开发平台采用LabWindows/CVI,可自动完成数据的采集、传递与处理.研究表明系统具有快速的记录储存和计算分析产品质量信息的特点.

关键词： 集成电路 自动测试系统 虚拟仪器 GPIB总线 LabWindows CVI

作者: 马宪民 任锋

作者单位: 西安科技大学电气与控制工程学院,西安,710054

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届全国信息获取与处理学术会议

会议地点: 贵阳、沈阳

会议语种:中文

页码: 1782-1784

在线出版日期: 2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）