电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响
非晶合金,特别是大块非晶合金,以其优异的性能而引起人们广泛的关注.通常情况下,人们普遍采用X射线衍射技术(XRD)来反映非晶合金的非晶态结构特征.然而当晶粒尺寸非常小时(如小于10nm),X射线衍射技术无法将非晶态和晶态严格地区分开.这样,透射电镜技术(TEM)或高分辨透射电镜技术(HRTEM)等直观的结构表征方法,就成为表征非晶合金真实结构不可或缺的技术手段.然而,在电镜样品制备的过程中,处于亚稳状态的非晶结构极易产生变化、引入结构假象,从而导致对结果的错误解读.有关电镜样品制备方法在非晶合金中引起的假象,还未引起人们足够的重视.为此,本文以三种非晶合金为例,结合HRTEM和高角环形扫描暗场像(HAADF-STEM)等表征手段,揭示了电镜样品制备方法对非晶合金结构的影响。
非晶合金 合金结构 电镜样品 制备方法 非晶态结构 透射电镜
孙兵兵 王艳波 文军 杨海 隋曼龄
沈阳材料科学国家(联合)实验室,中国科学院金属研究所,辽宁,沈阳,110016
国内会议
沈阳
中文
31-32
2006-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）