数字专用集成电路成测系统设计

由于专用集成电路具有用途广泛、功能特殊、内部电路复杂的特点,因此很难用通用的测试方法全面检测其静、动态参数.针对这一问题,并根据数字专用集成电路芯片H勘202的成测需要,设计了一套专用检测系统,介绍了系统的硬件设计和软件设计过程.
专用集成电路 测试系统 电路芯片
张瑜 祖静 裴东兴
仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学,太原,030051
国内会议
贵阳、沈阳
中文
1519-1520
2006-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
专用集成电路 测试系统 电路芯片
张瑜 祖静 裴东兴
仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学,太原,030051
国内会议
贵阳、沈阳
中文
1519-1520
2006-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)