运用NAND闪存的负延时存储测试系统
非易失性存储器应用在存储测试中具有存储容量大,掉电后数据不丢失的优点.在存储测试系统中,为了能完整地记录测试信号,在电路中使用负延时来记录电路触发点以前的数据.负延时功能在触发信号为被测信号的幅值达到触发阈值触发电路时,显得更加重要.本文介绍了使用单片机结合CPLD控制两片NAND结构闪存实现高速存储,并实现负延时功能.本装置实现了小体积,微功耗,高过载.
负延时 存储测试 闪存 存储器 触发信号
原彦飞 尤文斌 李新娥
中北大学电子工程系仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原,030051
国内会议
贵阳、沈阳
中文
1517-1518
2006-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）