光轴任意取向时晶体锥光干涉图的精确计算
晶体的锥光干涉是测量晶体各种特性参数的常用方法，但由于缺少对锥光干涉图的精确计算方法使测量范围和精度受到了限制。本文根据电磁场的边值关系，导出了不同于菲涅耳公式的晶体界面光振幅的关系，提出了晶体锥光干涉中两相干光的位相差和振幅的计算方法。计算结果用数字图像表示，能够直观地显示出晶体锥光干涉图的特征。晶体锥光干涉图的精确计算使大光轴倾角的晶体特性测量变得更容易，同时也为晶体产品的快速无损检测提供了可能。
晶体光学 锥光干涉图 菲涅耳公式 单轴晶体 数值计算
沈为民
中国计量学院,浙江杭州,310018
国内会议
杭州
中文
2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）