GaN64元线列紫外焦平面频率特性

摘要：

本文采用PI-4000 系列测试系统对GaN64 元线列焦平面进行测试，获取在不同频率下的线列焦平面性能，确定其最高工作频率，并对影响其最高工作频率的因素进行了分析，寻求提高最高工作频率，压缩读出时间，延长积分时间的途径。测试结果表明，GaN64元紫外焦平面的最高工作频率为1MHz，响应不均匀性小于2.5﹪，噪声为10-4V量级，100KHz时平均探测率达到8.58×109 cmHz1/2/W。

关键词： 紫外焦平面 读出电路 频率特征 平均探测率

作者: 张松 徐运华 谢文青 亢勇 李雪 方家熊 黄剑锋 李兴仁

作者单位: 传感技术国家重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 上海华龙信息技术开发中心,上海,201206

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）