原位光谱反射比测量系统设计

摘要：

原位光谱反射比测量系统用于对处于特定环境中的样品进行光谱反射比进行测量，可用于材料老化实验、样品光谱分析实验、等测量中。“原位测量”是指不将样品拿出实验环境而直接进行测量。本系统初次使用是用于测量真空室中模拟真空条件下航空材料经过强氧化前后材料的光谱反射比，以便对材料的光反射特性进行分析。

关键词： 光谱测量 CCD 光纤 原位光谱 光谱分析

作者: 王术军 张保洲

作者单位: 北京师范大学天文系,北京100875

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）