聚合物光纤光谱损耗特性的研究
本文用截断法测量聚合物光纤的光谱特性是研究其损耗的一种有效的方法。我们用平面光栅单色仪对聚合物光纤聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）和聚苯乙烯（PS）的损耗光谱进行了测量，并对测得的结果进行了讨论与比较。对PMMA芯POF有三个传输窗口，分别为520nm，574nm ，650nm，现在应用较广的是650nm，但520nm，574nm两个窗口的损耗较小，而且损耗特性较为平坦，更适合开发为通信窗口。对PS芯POF窗口分别为550 nm，580 nm，630 nm，670nm，733nm和780nm，现在应用较广的是670nm处的窗口，在550nm,580nm处的窗口有较好的应用前景。PMMA芯POF的损耗在600nm以前比PS芯POF要小，而在600nm～700nm要大。
聚合物光纤 损耗光谱 PMMA PS 截断法
冯春媛 金永兴 金尚忠 张在宣
中国计量学院光电子技术研究所,杭州,310018
国内会议
杭州
中文
2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）