基于不同半导体的太赫兹(THz)发射光谱
本文介绍了利用反射式太赫兹(THz)辐射装置产生太赫兹波段电磁辐射的产生与探测系统,给出了基于不同半导体的太赫兹(THz)发射光谱.通过快速傅立叶变换(FFT),测得的THz 时域光谱得到了其相应的频域光谱,从而对不同半导体的THz 发射性质进行了比较.结果表明,未掺杂的砷化铟(InAs)较其他半导体有更高效的THz发射本领。
半导体 电光取样 发射光谱 太赫兹 电磁辐射
赵国忠 张振伟 崔伟丽 钟华 张存林 杨国桢 R. N. Schouten P. C. M. Planken
首都师范大学物理系,北京100037 伦斯勒理工大学THz研究中心,纽约,美国 首都师范大学物理系,北京100037;中国科学院物理研究所,北京100080 代尔夫特理工大学THz成像组,代尔夫特,荷兰
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2004-04-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)