表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验

摘要：

给出薄膜表面光热形变和表面热透镜效应的理论模型，应用表面热透镜技术建立薄膜吸收测量系统，吸收率测量灵敏度和精度均达ppm量级。

关键词： 表面热透镜 光热形变 薄膜

作者: 范树海 贺洪波 范正修 邵建达

作者单位: 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800;中国科学院研究生院,北京,100039 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国光子学大会

会议地点: 黄山

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）