积分时间和积分电容对紫外焦平面性能的影响

摘要：

本文采用金属有机化学汽相沉积生长的p-i-n GaN材料制备了64元线列探测器并与读出电路实现了互连，采用PI-4000系列测试系统对焦平面器件进行了测试，分析了积分时间和积分电容对焦平面器件性能的影响。实验结果表明，焦平面的响应信号随积分时间的延长而增大；在相同积分时间下，信号与积分电容成反比关系；焦平面的读出噪声约为mV量级, 而积分电容对读出噪声没有明显的影响。焦平面探测率约为109 cmHz1/2/W量级。

关键词： 紫外焦平面器件 读出电路 积分时间 响应信号

作者: 谢文青 徐运华 张松 亢勇 李雪 方家熊 黄剑锋 李兴仁

作者单位: 传感技术国家重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 上海华龙信息技术开发中心,上海,201206

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）