激光量热法测量红外光学薄膜吸收

摘要：

本文建立了一种评价波长为1.319μm光学薄膜的吸收损耗的吸收测量系统。这里采用激光量热计方法，是因为它被广泛用来测量光学薄膜吸收，并且有很高的可靠性。论述了激光量热计法测量吸收装置的设计和建立，并给出基底-薄膜整体吸收的测量结果和记录的温度曲线，最后提出了在研究激光量热计测量方法中几个要考虑的问题。

关键词： 红外光学薄膜 吸收测量系统 激光量热法 温度曲线

作者: 刘志国 熊胜明 张云洞

作者单位: 中国科学院光电技术研究所,四川成都610209

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）