利用加权对数拟合法求解荧光寿命

摘要：

荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容，国际上发展了多种手段。本文介绍了一种加权的对数拟合法，可以得到和非线性函数标准拟合方法--Levenburg-Marquardt 方法非常接近的结果，但拟合时间大大缩短。文中给出了具体实验测试结果，结果显示这种方法的曲线偏差的情况与Levenburg-Marquardt 方法非常一致。

关键词： 荧光 数据拟合 荧光寿命检测 对数拟合法 光学传感器

作者: 孙伟民 张健中 张杨 相艳荣 苑立波

作者单位: 哈尔滨工程大学理学院,哈尔滨,150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）