导线线圈的射线层析检测

摘要：

本文选用不同的方法对两个导线线圈进行了射线检测,主要采用了透射式工业CT检测和康普顿背散射成像检测两种射线层析检测方法,有效检测了导线线圈内部的缺陷情况,并指出射线层析检测作为一项新技术和新手段,可充分应用在航天产品的无损检测中.

关键词： 导线线圈 射线层析检测 工业CT 散射成像

作者: 杨宝刚 李建伟 任华友 金虎

作者单位: 航天材料及工艺研究所,100076,北京 中国航空综合技术研究所,100028,北京

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国无损检测新技术学术研讨会

会议地点: 宁波

会议语种:中文

页码: 421-424

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）