基于光腔衰荡的反射率测量技术的研究

摘要：

本文根据光腔衰荡原理开展了高反射率镜片反射率测量技术的研究。理论上给出了直型腔和折叠腔的反射率计算方法，构建了测量高反镜反射率的实验系统。实验结果表明：本技术结构简单，易调节，可以测量任意角度的反射率，测量结果精确，可满足高反镜片的各种测量要求。

关键词： 高反射率镜片 反射率测量 光腔衰荡 测量精度

作者: 孙宏波 熊胜明 高丽峰

作者单位: 中国科学院光电技术研究所,610209

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国光学学会2004年学术大会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

在线出版日期: 2004-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）