RTCVD制备多晶硅薄膜的性能参数研究
研究了RTCVD 设备参数如:温度、反应气体流量、沉积时间对多晶硅薄膜的性能的影响,通过扫描电镜(SEM)、X 射线(XRD)、霍尔测试及电池模拟软件PC1D 描述了薄膜性质随各参数的变化规律性,提出改进薄膜性能的思路。
多晶硅薄膜 太阳电池 薄膜性能
王磊 沈辉 胡芸菲 班群
中科院广州能源所太阳能室;中山大学珈伟实验室 中山大学理工学院 华南理工大学机械学院 中山大学理工学院;中山大学珈伟实验室
国内会议
深圳
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2004-11-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)