会议专题

快速热退火前后ZnO及ZnO/Al薄膜性质的研究

本实验中ZnO 及ZnO/Al 薄膜用直流反应磁控溅射法制备。靶选用金属Zn 及金属合金Zn/Al 靶。经快速热退火(RTA)后,通过XRD,UV-VIS-NIR 分光光度计、四探针测方块电阻等研究了经不同温度RTA 后ZnO 及ZnO/Al薄膜的结晶状况、方块电阻、电阻率、可见光透过率等的变化。同时,对传统热退火和RTA 进行了比较。

直流反应磁控溅射 快速热退火 传统热退火

王海燕 段启亮 陈泳生 靳瑞敏 杨仕娥 卢景霄

郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室 450052

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2004-11-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)