单粒子翻转中三模块冗余容错机制研究
随着半导体技术的飞跃发展,用于航天器上的半导体器件的集成度不断提高,器件的特征尺寸越来越小,由于单个高能带电粒子射入半导体器件灵敏区,使器件逻辑状态翻转为相反状态,从而存储的信息出错,导致系统的功能紊乱,严重的可以导致灾难性事故的单粒子翻转等单粒子效应所造成的损失越来越严重,成为影响航天器可靠性和寿命的主要因素”1”.仅仅通过工艺方法改进器件结构和电路结构,提高器件抗单粒子效应能力的器件加固已不能满足目前的要求.本文利用三模块冗余容错机制来提高系统的可靠性,用可重配置芯片实现演化算法,利用演化硬件实现电子系统的容错、自修复、自适应等功能,大大提高了系统可靠性与适应性.
单粒子翻转 容错 TMR 演化硬件 FPGA
张炜 赵强 陈贵 褚杰
吉林省长春警备区,吉林,长春,30062 军械工程学院,计算机工程系,河北,石家庄,050003
国内会议
石家庄
中文
355-357
2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）