射频集成电路ESD保护与电路的相互作用和评估

摘要：

本文总结了射频集成电路ESD保护网络与核心电路之间复杂的相互作用以及可能造成的各种现象如ESD保护网络误触发、ESD保护结构引起的dV/dt触发辅助效应和噪声效应,讨论了射频ESD的评估技术以及ESD保护结构设计应注意的问题.旨在为集成电路设计人员提供射频ESD保护设计思路与努力方向.

关键词： ESD保护 射频集成电路 相互作用

作者: 张灵振 陈开颜 赵强

作者单位: 军械工程学院基础部 计算机工程系,河北,石家庄,050003

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国物理学会第十三届静电学术年会

会议地点: 石家庄

会议语种:中文

页码: 282-285

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）