化合物Gd117Fe52Ge112的Rietveld精修

利用X-射线粉末衍射技术和Rietveld结构修正方法对Gd117Fe52Ge112进行了研究,三元化合物Gd117Fe52Ge112具有Tb117Fe52Ge112结构类型,空间群为Fm(3)m(No.225).点阵参数为a=2.87680(1)nm,指标化的可靠性因子F30=80.4(30).用Rietveld方法对该化合物的晶体结构成功地进行了精化修正,精修得到的R因子分别为Rp=0.099和Rwp=0.128.
Gb117Fe52Ge112 晶体结构 Rietveld方法.
何维 张吉亮 曾令民
广西南宁市广西大学材料研究所,530004
国内会议
第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会
杭州
中文
101-104
2006-10-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)