压片制样X-射线荧光光谱法测定熟料中多元素

摘要：

用直接压片法制样,采用荧光光谱分析方法对氧化铝生产过程中主要的固体物料熟料进行分析,并与化学分析法进行了比较.通过大量的实验得出如下结论:对熟料样品,采用直接压片法制样,用X射线荧光光谱法测定,与化学分析法相比,除Ns(以Na2O表示的Na2SO4含量)由于受轻元素激发的影响,误差满足率稍低外,其他成分SiO2,Fe2O3,Al2O3,CaO,Na2O,K2O,TiO2等结果差值满足误差平均达90％,在分析速度占主导的情况下,基本可以满足生产要求.

关键词： X-射线荧光光谱 熟料 粉末压片法

作者: 赵合琴

作者单位: 中国铝业中州分公司技术中心,河南焦作,454174

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 455-459

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）