X-射线荧光光谱法测定进厂生铁中砷

摘要：

本文通过试验分析了进厂生铁的特性,利用X-射线荧光光谱仪分析进厂生铁中砷,消除了化学分析方法对人体造成的危害,该方法简便、快速、准确、可靠.

关键词： X-射线荧光光谱法 砷 粉末压片 基体效应

作者: 徐鹏 林莉 潘凌

作者单位: 南昌钢铁有限责任公司检测中心,江西南昌,330012

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 442-444

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）