高分辨等离子体质谱法测定高纯二氧化钛中痕量杂质

摘要：

采用高分辨电感耦合等离子体质谱(HR-ICP-MS)法同时测定高纯二氧化钛中Be,Na,Mg,Al,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Ge,As,Mo,Cd,Sn,Sb,Ba,Ce,Nd,Sm,Pt,Pb,Bi等26种杂质元素.样品用硫酸铵和浓硫酸分解后,试液直接用HR-ICP-MS法同时上述痕量元素,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰,讨论了高浓度钛基体的谱线干扰,比较了钛产生的多原子离子的干扰程度.详细地研究了高浓度钛和硫酸的基体效应,考察了采用内标元素对基体效应的校正,应用标准加入法进行定量分析,确定了实验的最佳测定条件.结果表明,方法的检出限为0.004～0.63 μg/g,回收率为87.6％～106.4％,相对标准偏差(RSD)小于3.5％.方法准确、快速、简便,应用于高纯二氧化钛中杂质元素的测定,满意结果.

关键词： 高分辨电感耦合等离子体质谱 高纯二氧化钛 杂质元素 基体效应 内标元素 标准加入法

作者: 谢华林 聂西度 唐有根

作者单位: 湖南工学院化工系,衡阳,421008 中南大学化学化工学院应化系,长沙,410083

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 126-131

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）