40Gb/s PIN光探测器模拟开关冲击观测及开关失效分析

摘要：

介绍了40Gb/s PIN-光探测管芯结构和及其模拟开关冲击的几种观测结果,估算了40Gb/s PIN-光探测器的电压电流限制,分析了器件失效的几种原因.

关键词： 光通信技术 开关冲击 开关失效 光探测器 管芯结构

作者: 丁国庆 刘兴瑶

作者单位: 武汉电信器件有限公司,武汉市,430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国十五届十三省光学学会学术大会

会议地点: 太原

会议语种:中文

页码: 91-94

在线出版日期: 2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）