X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究
本文对X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用进行了研究。文章指出,X射线荧光光谱分析法具有分析速度快、试样加工相对简单、偶然误差小及分析精度高的特点。近年来,由于高度稳定和高度自动化仪器的配备,形成了以X射线荧光分析为主的快速、经济的分析系统。
岩石成分 矿物鉴定 射线光谱仪
冯彩霞 李国会 樊守忠 潘宴山 范辉
中国科学院,地球化学研究所,矿床地球化学国家重点实验室,贵阳,550002 中国地质科学院,地球物理地球化学勘查研究所,廊坊,065000
国内会议
北京
中文
592-594
2007-04-27(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)