X射线粉末衍射法测量新型炸药DAAF的晶粒度

摘要：

本文采用X射线粉末衍射(XRD)的方法测量了DAAF细化前后的晶粒度情况,用Topas软件全谱拟合,结合Scherrer公式,分别用基本函数法和Pseudo-Voigt函数拟合法,计算晶粒度,并将两种分析结果进行对比,结果较吻合.综合分析认为,基本函数法计算炸药晶粒度可以作为炸药晶体的质量控制方法.

关键词： X射线粉末衍射法 炸药 晶粒度

作者: 夏云霞 康彬 孙杰

作者单位: 中国工程物理研究院化工材料研究所,绵阳,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 336-339

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）