会议专题

Te掺杂LaMn03晶格结构的XRD分析

本文通过X射线衍射数据,用Rietveld精修方法分析了Te部分替换LaMnO3中La后,其晶格参数及其结构对称性所发生的变化.结果表明:Te掺杂LaMnO3系列样品具有R3C的晶格结构对称性,其MnO6八面体晶格还产生了伸张畸变,畸变程度随Te掺杂量的增加而增大.此外根据Mn-O-Mn键角、A位离子平均半径及A位离子尺寸失配度等的变化特点,预测Te掺杂LaMnO3样品除居里温度等相变量将随x增加而升高外,还可能产生自旋玻璃态、相分离等宏观现象.

晶格结构 X射线衍射 自旋玻璃态 相分离

谈国太 陈正豪

北京师范大学低能核物理所,北京师范大学材料系,北京市辐射中心,北京,100875 北京凝凝态物理国家实验室,中国科学院物理研究所,北京,100080

国内会议

第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

杭州

中文

268-271

2006-10-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)