X射线衍射(XRD)法测定Ni电极材料结构、半高宽、峰高比及其测定方法的研究

摘要：

本文通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征,本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构、计算其衍射峰的半高宽和峰高比.求解峰高比时改进测定方法,采用定点测量的方法,减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/√N,使定量更准确.从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能,便于建立工艺条件.

关键词： X射线衍射 电极材料 衍射峰 微结构特征

作者: 程群

作者单位: 北京普析通用仪器有限责任公司,北京,100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 53-57

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）