X射线衍射全谱拟合分析微结构

摘要：

X射线衍射微结构分析方法就是一种基于衍射峰型和半峰宽的分析方法.这是因为,X射线衍射线形可以表达为仪器宽化线形(包括仪器几何,光学系统和样品位置偏移等所造成的宽化)以及样品自身宽化线形(包括晶粒尺寸,应变以及微缺陷等所造成的宽化)的卷积.本文主要就X射线衍射全谱拟合分析微结构的基础理论进行了论述.

关键词： X射线衍射 X射线晶体学 微结构分析

作者: 吕光烈

作者单位: 浙江大学,杭州,310028

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 8-11

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）