纳米Fe-TiO2半导体的制备与光谱性质研究
用溶胶-凝胶法和静电自组装法相结合,成功地在普通载玻片上制备出掺铁的二氧化钛薄膜.用X射线衍射方法对所得样品作了结构表征与分析.结果表明:本实验所制备的薄膜样品均呈良好的锐钛矿相,并且其晶粒大小分布在20～40 nm之间;用扫描电子显微镜测试分析了薄膜表面的形貌,发现所得薄膜样品的颗粒形状基本一致,能谱的测试结果进一步肯定了Fe3+已有效地掺入了TiO2晶格中;用分光光度计研究了掺铁二氧化钛薄膜的光吸收特性,结果表明随着铁含量的增加,薄膜的光吸收边出现红移,且红移量减小.利用Tauc公式对其光学带隙大小进行了计算,结果表明掺铁二氧化钛薄膜样品的光学带隙可在3.60～3.70 eV之间变化.
溶胶凝胶法 静电自组装法 掺铁二氧化钛薄膜 结构表征 光学性质 半导体薄膜
史卫梅 刘发民 丁芃 桑敏
北京航空航天大学理学院物理系,凝聚态物理与材料物理中心,北京,100083
国内会议
北京
中文
264-268
2006-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）