ICP-AES干扰来源与消除、校正探讨

摘要：

ICP-AES的干扰是极其复杂的,干扰来源很多,有光谱干扰、基体干扰、电离干扰、背景干扰、雾化干扰以及化学干扰.有些文献将它们分为光谱干扰和非光谱干扰.由于干扰来源不同,同样消除或校正干扰的方式也千差万别,干扰来源及消除或校正的方式,己成为ICP分析工作者的诸多研究课题.本文仅对ICP-AES干扰来源与消除、校正进行探讨。

关键词： ICP-AES 光谱干扰 原子发射光谱 校正干扰

作者: 计子华

作者单位: 北京岛津分析中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 642-645

在线出版日期: 2006-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）