碳化物超细粉的正电子湮没和高分辩电镜研究

摘要：

正电子在球磨后TiC粉末中同时发生界面捕获态和晶内自由态两种湮没方式,但随着球磨时间增加,界面捕获态湮没发生几率增加,晶内自由态湮没发生几率减少;同时第二类缺陷尺寸增大,数量增多;但过长时间的球磨会使第二类缺陷尺寸增大幅度有所减小.在球磨TiC粉末中用高分辨电镜观察到了尺度为1nm量级的形变畴,并存在堆垛层错、晶格畸变等缺陷.

关键词： 碳化钛粉末 碳化物超细粉 正电子湮没

作者: 梅志 熊惟皓 胡耀波 崔崑

作者单位: 华中理工大学模具技术国家重点实验室,武汉,430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届国际模具技术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 234-239

在线出版日期: 2000-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）