一个使用压缩测试向量的BIST方案

摘要：

本文提出了一个基于LFSR-ROM的BIST方案,它利用ATPG产生测试向量过程中剩余的随意位,压缩存放测试向量的ROM.文章介绍了带随意位测试向量压缩的主要途径,TPG设计思想,以及实验结果.实验表明,本方案可以成倍的压缩ROM的硬件开销.

关键词： 测试向量 随机向量难测故障 向量压缩 硬件开销

作者: 李立健 闵应骅

作者单位: 中国科学院,计算技术研究所,北京,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科学院计算技术研究所第六届计算机科学与技术研究生学术讨论会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 636-641

在线出版日期: 2000-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）