集成PAGER控制器的可测性设计

摘要：

本文首先分析了常用IC的测试方法,着重讨论了内嵌CPU和存储器的集成PAGER控制器的可测性设计,根据扫描测试的原理,实现了一种基于CPU的调试方法.该调试方法利用了芯片已有的几种测试模式,只需在芯片中增加很少的控制逻辑即可从外部实现对芯片调试.

关键词： 可测性设计 控制器 芯片测试 测试模式 控制逻辑

作者: 高军 邵寅亮 倪光南

作者单位: 中国科学院计算机技术研究所,北京,100080 北京中庆微数字设备有限公司,北京,100086

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科学院计算技术研究所第六届计算机科学与技术研究生学术讨论会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 605-609

在线出版日期: 2000-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）