HDL级集成电路测试用例生成

摘要：

随着集成电路复杂性的增加,传输行为级上的芯片测试越来越得到人们的关注.借助于软件测试技术,本文给出了一种求测试用例(即一组含有局部确定位的测试序列)的方法.此方法在程序流程图基础上实现了完全分支覆盖.

关键词： 传输行为级 程序流程图 测试用例

作者: 高燕 沈理

作者单位: 中国科学院,计算技术研究所,系统结构室,北京,100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科学院计算技术研究所第七届计算机科学与技术研究生学术讨论会

会议地点: 四川广元

会议语种:中文

页码: 465-470

在线出版日期: 2002-07-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）