会议专题

高温超导薄膜微波表面电阻测量标准理论精度修正

高温超导薄膜的表面电阻RS作为应用超导器件设计和性能衡量的一个重要参数,对超导无源微波元件的设计和开发有很重要意义.准确测量超导薄膜的表面电阻Rs也就非常重要.国际通用的标准测量方案中的理论模型公式是基于高温超导膜无限大的基础上的.考虑到实际超导薄膜的总是有限大的情况,我们从理论上进行了精度分析,在此基础上对此理论模型公式进行了修正,求出基于超导膜有限大时的Rs的表达式,并对两种情况进行了一定的比较。

高温超导薄膜 表面电阻 微波元件

吉争鸣 李洪洋 孙国柱 许伟伟 吴培亨

南京大学,电子科学与工程系,210093

国内会议

第八届全国超导薄膜和超导电子器件学术会议

长春

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2004-08-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)