存储器内建自测试技术及应用

摘要：

存储器内建自测试(memory built-in self-test, MBIST)是当前针对嵌入式随机存储器(E-RAM)测试的一种经济有效的途径.它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成”片上BIST测试结构”,作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E-RAM的自动测试.根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论.

关键词： 可测性设计 宏模块测试 存储器内建自测试 故障模型 march算法

作者: 檀彦卓 徐勇军 李华伟 李晓维

作者单位: 中国科学院计算技术研究所信息网络室,北京100080 中国科学院研究生院,北京,100039

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 153

在线出版日期: 2004-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）