并行I/O测试程序的分析与可调特征宏基准测试程序设计

摘要：

并行I/O微基准测试程序可以帮助用户了解系统,而并行I/O宏基准测试程序可以综合的评价系统.虽然目前有多种并行I/O微基准测试程序,但是由于并行I/O结构复杂、测试内容多且缺乏深入的负载特征调研工作,在并行I/O宏基准测试程序领域的研究仍然滞后.在说明理想I/O测试程序具备的特征、归纳I/O测试程序设计中关键问题的基础上,本文面向科学计算分析了现有并行I/O基准测试程序功能,说明了它们的不足,提出了可调负载特征的并行I/O宏基准测试程序的设计方案.

关键词： 并行I/O I/O测试程序 可调特征宏基准测试

作者: 曹立强 罗红兵

作者单位: 北京应用物理与计算数学研究所,北京,100088

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006年全国高性能计算学术会议(HPC 2006)

会议地点: 北京

会议语种:中文

在线出版日期: 2006-10-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）