基于HDL故障注入的处理器可靠性评估框架与实现
针对宇航处理器可靠性评估的需求,本文在研究分析了各种故障注入技术的基础上,给出了一种基于HDL故障注入的处理器可靠性评估框架,该框架的目标问题是SEU(单粒子翻转事件),可以采用两种方案加以实现.最后,利用基于modelSim模拟的方式对LEON3的SEU可靠性进行了测试,给出了LEON3的SEU失效率和SEU的RFA.本文提出的可靠性评估框架和实现对其他处理器的SEU可靠性评估具有一定的借鉴意义.
故障注入系统 可靠性评估 宇航处理器
张波涛 刘衡竹
国防科技大学计算机学院,湖南长沙
国内会议
福建武夷山
中文
43-47
2006-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）