芯片测试中的功耗控制技术

摘要：

随着CMOS器件进入超深亚微米阶段,测试时产生的功耗比系统正常工作时的功耗高很多,测试功耗正逐渐成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点.本文首先介绍低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗,介绍几种主要的测试功耗控制技术,最后做分析总结.

关键词： 测试功耗 芯片测试 CMOS器件

作者: 王伟 李晓维 张佑生 方芳

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;中国科学院计算技术研究所信先进测试技术实验室,北京,100080 中国科学院计算技术研究所信先进测试技术实验室,北京,100080 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 240-244

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）