基于混合遗传算法的测试壳优化

摘要：

本文针对兼容于IEEE 1500标准的测试壳,提出了采用基于BFD(FFD)的混合遗传算法的测试壳优化方案.遗传算法是一种解决NP问题的有效方法,针对测试壳的结构特点,构建新的混合遗传算法,解决测试壳优化问题.在利用较少的测试端口的情况下,最长测试壳扫描链长度得到普遍缩短,对于ITC”02基准电路d695和p93791电路,最大的缩短量可达2％.

关键词： 测试壳 遗传算法 系统级芯片 测试端口

作者: 王永生 曹贝 肖立伊

作者单位: 哈尔滨工业大学微电子中心,哈尔滨,150001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 226-232

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）