高频全差分VGA增益控制特性的自动测试

摘要：

本文介绍了一种高频全差分VGA增益特性的自动测试方法.针对输入输出全差分电路的特性,文章首先分析了通过balun构建的测试系统的增益补偿系数,利用GPIB总线和计算机并口,实现了电路的自动测试.最后使用本方法在50分钟内完成了VGA 2176个测试点的精确测试,结果表明该方法提高了测试效率和测试可重复性.

关键词： RFIC测试 GPIB总线 自动测量 测试系统 集成电路

作者: 黄成 恽廷华

作者单位: 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,南京,210096

会议类型: 国内会议

会议名称: 第四届中国测试学术会议

会议地点: 北戴河

会议语种:中文

页码: 160-165

在线出版日期: 2006-08-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）